贴片电容寿命测试方法与检测指标

贴片电容的寿命有两层含义，其一是老化寿命，其二是使用寿命。
贴片电容的老化寿命一般没有多大实际意义。一颗电容即便生产出来很多年，也一样可以正常使用。这个和晶振不太一样。当然如果仓储环境达不足，出厂时间久的贴片电容端电极有可能老化，导致焊接性能下降。因此原则应该购买出厂一年以内的产品。

风华高科对贴片电容的使用寿命一般采用如下方式进行测试：

1、测试方法

1.1 、低压贴片电容（≤100V）

电压：1.5 倍额定工作电压

时间：1000 小时

温度：125℃（NPO、X7R） 85℃（X5R、 Y5V）

充电电流：不应超过50mA

放置条件：室温

放置时间：24 小时（Ⅰ类），或48 小时（Ⅱ类），

1.2、中高压贴片电容：

100V≤额定电压＜500V：2 倍工作电压

500V≤额定电压≤1000V：1.5 倍工作电压

额定电压＞1000V：1.2 倍工作电压

时间：1000 小时

充电电流：不应超过50mA

温度：125℃（NPO X7R）；85℃（X5R、Y5V）

放置条件：室温

放置时间：24 小时（Ⅰ类），或48小时（Ⅱ类）

2、测试标准：
ΔC/C
Ⅰ类：≤±2%或±1pF 取两者之中较大者

Ⅱ类：B,X: ≤±20% ；E,F: ≤±30%

ΔC/C：

Ⅰ类：≤±2%或±1pF取两者之中较大者

Ⅱ类：B,X: ≤±20%；E,F: ≤±30%

DF：
≤2 倍初始标准

IR

Ⅰ类：Ri≥4000MΩ或 Ri• CR≥40S 取两者之中较小者.

Ⅱ类：Ri≥2000MΩ或 Ri• CR≥50S 取两者之中较小者.

外观

无损伤

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